原理
1.標準裝置：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋X軸距標準裝置;
2.測量原理：利用頭架的測量力，接觸被測球體（測量平面物體 - 如測量塊，校驗桿，千分尺，卡片表等）接觸待測平面。測長儀五軸工作臺的水平移動使得尾座的球體能夠測量到被測設備的另一個平面;測量兩個球形帽的頂點之間的距離;使用頭架的力測量并使用平面測量帽的平面（測量的圓周的外徑，量規(guī)，針規(guī)和桿）與要測量的平面接觸，五軸工作臺的水平軸線浮動使尾帽球體與被測表面的另一平面接觸;從而測出兩個測試帽之間的距離;用力測量和測量平面測量帽的接觸，使三針螺紋量規(guī)凹槽直徑段接觸點得到平面測量帽之間的距離，并加上三針直徑，使用三針計算單螺紋的方法螺紋中段截面直徑分別采用T形球和螺紋環(huán)規(guī)的內(nèi)螺紋槽的直徑截面點求得，螺紋的單根直徑由三針法;
3.測長儀數(shù)據(jù)校正：通過力量校正系統(tǒng)和溫度校正系統(tǒng)對X軸光柵反饋數(shù)據(jù)進行校正，得到正確的X軸標準長度值;
4.軟件標準和數(shù)據(jù)計算：軟件系統(tǒng)內(nèi)置多個標準，并計算所需的數(shù)據(jù)（如螺紋的單個直徑，測量塊的標準長度，光標的真實值等）。 ，通過相應的標準數(shù)據(jù)計算